更新時(shí)間：2024-06-16
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號(hào) | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | CSD-32-100-2A-GR | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
在一定的測(cè)量條件下，隨機(jī)誤差的分布范圍實(shí)際有限并且一定〔有限性)。隨機(jī)誤差的這些統(tǒng)計(jì)特征可用正態(tài)分布來描述，哈默納科精密儀量諧波CSD-32-100-2A-GR這為應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法來處理與評(píng)定隨機(jī)誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響提供了可能性。
c.粗大誤差〔又稱過失誤差)粗大誤差是超出在規(guī)定條件下預(yù)計(jì)的誤差。它是由于測(cè)量者主觀上的疏忽或客觀條件的劇變等原因造成的，常使測(cè)得值有顯著的差異。在正常測(cè)量過程中，應(yīng)該而且能夠?qū)⒋执笳`差剔除。
C2)測(cè)量方法的總誤差任何一個(gè)測(cè)量方法的測(cè)量結(jié)果中，都含有來自測(cè)量系統(tǒng)〔包括測(cè)量原理、測(cè)量器具和測(cè)量條件等)各方面因素引起的多種不同的測(cè)量誤差。因此，測(cè)量方法的總誤差可以看成是各項(xiàng)獨(dú)立因素引起的測(cè)量誤差的函數(shù)。測(cè)量方法的總誤差常按它的 哈默納科精密儀量諧波CSD-32-100-2A-GR 3.測(cè)量器具的選擇
正確選用量具和儀量應(yīng)考慮以下因素:
1)量具和儀器的度量指標(biāo)能滿足測(cè)量的要求。如:量?jī)x的測(cè)量范圍能覆蓋被測(cè)參數(shù)的量值。
2)一般情況下，單件測(cè)量選用通用量具或儀器;被測(cè)件批量大、數(shù)量多時(shí)可以選用量?jī)x、量規(guī)或檢具。
